Сформувати базові уявлення студентів про новітні підходи до метрології параметрів когерентних та частково когерентних оптичних полів; можливість створення оптичних пасток та маніпулювання частинками; використання мікро- та наночастинок для оцінки параметрів світлового поля; оптичну метрологію шорстких поверхонь.